SPM-8000系列 科研級快速光譜輻射計

  SPM-8000科研級快速光譜儀采樣科學級CCD探測器和低雜散光光學分光平臺以及新的電子電路技術，極大地提高了光譜響應能力和光學分辨率，為科學研究和高精度測量提供了強有力的手段。SPM-8000在紫外和近紅外具有的響應度，廣泛應用與照明行業的全光譜測試。

  ▲滿足IESNA LM-79和GB/T 24824標準要求。

  ▲ 測試結果溯源至中國國家(NIM)。

  ▲ 制冷背投式CCD，靈敏度高、動態范圍寬。

  ▲ 用戶可自行進行系統校準和驗證，無需將系統返廠校正。

  ▲ 快速采集數據，實時顯示。

  ▲ 多圖形顯示參數，直觀便于理解。

  主要技術參數：

  * 日本濱松高靈敏度背照式制冷型CCD探測器

  * 波長范圍: 200nm~1100nm可定制

  * 雜散光：小于0.01%

  * 光度線性度：小于0.2%

  * 積分時間：5ms~15min

  * 信號動態比：25000:1

  * 光譜波長精度：±0.2nm,分辨率：±0.2nm

  * 色品坐標精度：±0.0003 (標準A光源)

  典型應用

  * 積分球光色電綜合測試系統

  * 植物照明光通光子測量

  * 紫外光源測試